英國(guó)ABI-6400電路板故障檢測(cè)儀產(chǎn)品突出特征：

1）產(chǎn)品體積小，重量輕，USB接口，適合攜帶
2）64路數(shù)字集成電路測(cè)試，64路V-I曲線測(cè)試，1路v-i探棒測(cè)試
3）同一器件可以在同一時(shí)間完成多種測(cè)試：功能測(cè)試，V-I曲線測(cè)試，溫度拐點(diǎn)系數(shù)測(cè)試，連接狀態(tài)測(cè)試，管管腳電壓測(cè)試
4）測(cè)試庫(kù)達(dá)上萬(wàn)種元器件，可以通過(guò)圖像化的編輯器自定義測(cè)試庫(kù)，可以快速擴(kuò)充測(cè)試庫(kù)
5）整板測(cè)試非常簡(jiǎn)單，通過(guò)圖形化的測(cè)試庫(kù)編輯器，根據(jù)電路板原理，定義輸入激勵(lì)型號(hào)及輸出的標(biāo)準(zhǔn)響應(yīng)信號(hào)，快速建立板測(cè)試庫(kù)，快速批量檢測(cè)電路板的功能。
6）短路追蹤可以快速找到短路點(diǎn)
7）V-I曲線溫漂拐點(diǎn)系數(shù)測(cè)定，方便找出不穩(wěn)定器件
8）V-I曲線電壓掃描范圍：-10v~+10v 掃描電壓范圍可以2.5V步進(jìn)調(diào)整，可調(diào)整為非對(duì)稱電壓掃描信號(hào)，掃描信號(hào)可達(dá)幾十種。
8）邏輯電平閾值自定義?？梢栽O(shè)定非標(biāo)準(zhǔn)的邏輯電平閾值，檢查不穩(wěn)定的元器件
9）邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值零界值,設(shè)定循環(huán)測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯(cuò)誤結(jié)果.
10）配有離線測(cè)試盒，快速測(cè)試批量元器件。離線測(cè)試和在線測(cè)試功能*一至。
12）系統(tǒng)可以在64路的基礎(chǔ)上以64通道為單位進(jìn)行通道擴(kuò)充，直至256通道

產(chǎn)品介紹及特點(diǎn)：

1）數(shù)字測(cè)試通道:64路（可擴(kuò)充到256通道）.
2）模擬測(cè)試通道64路（可擴(kuò)充到256通道）.
3）隔離通道:4路.總線競(jìng)爭(zhēng)信號(hào)隔離功能:用于解除總線競(jìng)爭(zhēng)，確保正確測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件（如74LS373,74LS245,等），可提供4路總線競(jìng)爭(zhēng)隔離信號(hào)。
4）快速掌握被測(cè)元件的多種信息,針對(duì)一個(gè)器件同時(shí)完成多種測(cè)試:數(shù)字ic功能測(cè)試,V-I曲線測(cè)試,曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù),各個(gè)管腳電壓值測(cè)量,管腳連接狀態(tài)測(cè)量顯示,
5）能夠?qū)Χ喾N邏輯電平數(shù)字邏輯器件進(jìn)行在線/離線功能測(cè)試；上萬(wàn)種測(cè)試元件庫(kù)，元件種類:TTL,CMOS,Memory,Interface,LSI,CPU,PAL等.
6）邏輯電平閾值自定義。
7）邏輯電平閾值自動(dòng)掃描,以確定板系統(tǒng)邏輯電平閾值,設(shè)定循環(huán)測(cè)試來(lái)發(fā)現(xiàn)不穩(wěn)定的錯(cuò)誤結(jié)果.
8）輸入輸出邏輯時(shí)序圖形顯示、具體時(shí)序電壓值顯示,方便掌握具體有用測(cè)試信息。
9）IC型號(hào)識(shí)別：針對(duì)標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件，可“在線”或“離線”進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試。
10）讀寫(xiě)存儲(chǔ)器功能測(cè)試:可針對(duì)記憶容量在2k×8到256k×8的EPROM進(jìn)行讀取,對(duì)比及將資料存入電腦中,可進(jìn)行在線或離線測(cè)試.可采取在線（離線）學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來(lái)，保存到計(jì)算機(jī)上，再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試；測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上，并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼
11）V-I曲線模擬特征分析測(cè)試:V-I曲線測(cè)試通過(guò)比較好和壞電路板上相應(yīng)器件管腳的特征曲線差異檢測(cè)故障.可把故障定位到電路結(jié)點(diǎn).V-I曲線試不涉及器件功能是逐管腳進(jìn)行的,不受器件封裝限制,任何封裝形式的器件均可進(jìn)行測(cè)試,V-I曲線測(cè)試無(wú)需給電路板加電,測(cè)試安全。
12）5V/5A的直流電源程控自動(dòng)輸出,具有過(guò)電壓及過(guò)電流保護(hù)功能.由系統(tǒng)自動(dòng)控制輸出,并可設(shè)定輸出的延遲時(shí)間.方便各種類型電路板的測(cè)試。
13）V-I曲線測(cè)試功能:可針對(duì)數(shù)位元件直接進(jìn)行測(cè)試,具有64組測(cè)量通道并可以擴(kuò)充到256組通道,測(cè)試電壓可由2.5到5V步階式調(diào)整,其輸出電流由系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整設(shè)定.
14）圖形化元件測(cè)試庫(kù)的編輯,輸入輸出各個(gè)測(cè)試通道的邏輯時(shí)序可以由測(cè)試者圖形化自定義編輯，方便快捷的建立起測(cè)試庫(kù)中沒(méi)有的元件庫(kù)。
15）電路板整板測(cè)試，通過(guò)圖像化測(cè)試庫(kù)編輯器，測(cè)試者可以根據(jù)電路板的原理圖，將電路板的輸入輸出的時(shí)序進(jìn)行圖形化的測(cè)試庫(kù)編譯，自定義輸入通道的測(cè)試激勵(lì)信號(hào)，根據(jù)電路板的原理推算出輸出通道的響應(yīng)時(shí)序信號(hào)，并將測(cè)試庫(kù)保存在測(cè)試庫(kù)中，以備日后做整板檢測(cè)使用。
16）短路電阻測(cè)量功能：三段低電阻測(cè)量范圍，可以用圖像及聲音的變化來(lái)表示電阻值大小，并自動(dòng)探棒校正功能。此功能可以用以檢查電路板線路的電阻值，及檢查短路點(diǎn)。
17）中英文測(cè)試軟件，體積小，usb口連接電腦
18）V-I曲線測(cè)試電壓-10v~+10v內(nèi)可以調(diào)整，正負(fù)電壓可以不一至，例如：-2.5v~+10v zui大限度地保證測(cè)試的安全性。
19）該設(shè)備可以64路通道為標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行擴(kuò)充，直至256路，保證了整板測(cè)試的zui大路數(shù)為256路。
20）V-I曲線測(cè)試,可以觀測(cè)曲線拐點(diǎn)溫度變化系數(shù)，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障（或稱為軟故障）。
21）數(shù)字集成電路測(cè)試中集電極開(kāi)路，自動(dòng)上加上拉電阻。
22）V-I曲線測(cè)試具有單通道探筆測(cè)試功能，方便分立器件的V-I曲線測(cè)試
23）LSI大規(guī)模集成電路在線功能及狀態(tài)分析測(cè)試：可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見(jiàn)的LSI器件進(jìn)行功能及狀態(tài)分析測(cè)試。

技術(shù)參數(shù)：